ADCMT 6240A爱德万6240B电压电流发生器

日本爱德万直流电源ADCMT6240B电压电流发生器产品概述
6240B是遵循测量功率的6240A即一直积极多年半导体测试的性能，是新具有高速响应的脉冲产生/测量功能，低电阻测量功能，它可以测试的接触电阻，如连接的事情。半导体是较小逐年，为了测试具有高精度的特性，它以测量微小功率不引起自加热是重要的。 6240B是zui小脉冲宽度为50μs，以满足这样的要求是允许测量与脉冲发生器和1μs的分辨率。因此，半导体可以通过提供一个电压或电流范围不自加热来测量。

另外，通过测试，同时传播该脉冲通过小宽度小，以允许温度依赖性的评价。此外，连接器和线束，例如分流电阻的电子设备，在不损失的电信号的通路的接触电阻的测量是非常重要的。特别是，当不同的金属相接触的热电功率产生的，它会成为测定的大的误差。

低电阻测量由6240B，它是沿着它是在JIS“连接器的测试方法的电子定义<JIS C5402>可以在不到20mV的测量，取消该热电这是在错误因素之一它有一个内置的功能是可用的，因为高的精度测试。

日本爱德万ADCMT6240B直流电源电压电流发生器特点
生成和测量范围
电压：0?±15V电流：0?±4A（DC为1A）
基本精度：±产生0.02％，测定
51/2位（±319999），测量分辨率1μV/100pA减的
zui大20毫秒之间，源/±4A的接收器是可能的
zui小脉冲宽度为50μs与传统的10倍的性能，分辨率为1μs的脉冲测量
可吸收双极性输出
实现热电低电阻测量功耗取消

電圧電流発生器6240B製品概要
6240B は、長年半導体の試験に活躍している計測電源の 6240Aの性能を踏襲し、新たに高速レスポンスのパルス発生／測定機能と、コネクタなどの接触抵抗を試験できる低抵抗測定機能を持たせたものです。半導体は年々小さくなっており、その特性を高精度で試験するためには、自己発熱を起こさない微少な電力で測定することが重要です。6240B は、このような要求に応えるためにzui小パルス幅50μsというパルス発生と1μsの分解能での測定を可能にしています。したがって、半導体が自己発熱しない範囲で電圧や電流を供給して測定ができます。

さらに、このパルス幅を少しずつ広げながら試験することによって、温度依存特性評価が可能になります。また、電子機器のコネクタやワイヤハーネス、シャント抵抗など、ロスのない電気信号を通すために接触抵抗の測定は極めて重要です。とくに、異種金属が接触する場合は熱起電力が発生し、測定の大きな誤差になってしまいます。

6240Bによる低抵抗測定では、JISで規定された「電子機器用コネクタ試験方法 ＜JIS C5402＞ に沿って 20mV以下での測定が可能ですが、その際に誤差要因の一つとなる熱起電力をキャンセルする機能を内蔵していますので高精度に試験ができます。

電圧電流発生器6240B特長
発生?測定範囲
電圧：0 ～ ±15V 電流：0 ～ ±4A （DCは1A）
基本確度：±0.02％の発生、測定
5 1/2桁 (±319999) 、分解能1μV/100pAの測定
zui大20ms間、±4Aのソース／シンクが可能
従来の10倍の性能を持つzui小パルス幅50μs、分解能1μsのパルス測定
シンク可能なバイポーラ出力
熱起電力をキャンセルした低抵抗測定を実現